详细摘要： 在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-06-20 在线留言岱美仪器技术服务（上海）有限公司
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详细摘要： 1、简述FR-InLine是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪（膜厚仪），可进行在线非接触测量3nm-1mm厚度范围内的涂层
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-06-20 在线留言
详细摘要： FR-Scanner厚度测量視頻Thetametrisis膜厚仪FR-Scanner是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-06-18 在线留言
详细摘要： 膜厚仪FR-Mic是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，可以将光斑缩小到几个微米，进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-06-17 在线留言
详细摘要： 产品简介：FR-Scanner-AllInOne-Mic-XY300模块化厚度测绘系统集成了光学、电子和机械模块，可兼用于对无图形和图形薄膜（例如微图形表面、粗...
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-06-17 在线留言
详细摘要： 1、简述FR-InLine是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪（膜厚仪），可进行在线非接触测量3nm-1mm厚度范围内的涂层
产品型号：所在地：上海更新时间：2023-03-28 在线留言
详细摘要： 1、FR-Scanner-AIO-Mic-XY200介绍模块化厚度测绘系统平台，集成了光学、电子和机械模块，用于表征图案化薄膜光学参数
产品型号：所在地：上海更新时间：2023-03-28 在线留言
详细摘要： 自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50*的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言
详细摘要： 满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的*厚度测试系统F3-sX家族利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测厚度达3毫米
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言
详细摘要： 自动化薄膜测绘FilmetricsF54系列的产品能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度,样品直径达450...
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言
详细摘要： 同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置，F10-RT仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到...
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言
详细摘要： 比色光析管架2路比色光析管支架，可容纳10毫米光程长度的矩形比色管（3.5毫升体积），用于吸光度/透射率测量
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言
详细摘要： 膜厚仪FR-Mic是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，可以将光斑缩小到几个微米，进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-08-17 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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